Hà Nội: Thí sinh dùng thiết bị công nghệ cao để gian lận trong kỳ thi THPT Quốc gia 2017

Một thí sinh tham gia kỳ thi THPT Quốc gia 2017 ở Hà Nội đã bị phát hiện có sử dụng thiết bị công nghệ cao để gian lận trong môn thi Toán.

Theo báo Dân Trí, vào chiều ngày 22/6, khi chỉ còn 30 phút nữa là hết thời gian làm bài thi môn Toán, tại điểm thi trường THPT Quốc Oai, Hà Nội đã phát hiện một thí sinh sử dụng tai nghe đọc và chép lời giải bài thi trắc nghiệm môn Toán.

Ngay lập tức, thí sinh này đã bị đỉnh chỉ và mời về Hội đồng thi để xử lý.

Báo Công an Nhân dân đưa tin, thiết bị công nghệ cao mà thí sinh này sử dụng để gian lận trong môn thi Toán THPT Quốc gia 2017 là thiết bị thu, phát tín hiệu dạng vòng cổ lắp sim bao gồm bộ phát có hình hộp chữ nhật kích thước 3x5x1cm, có khe cắm thẻ sim, phím chỉnh âm lượng míc, gắn với 1 hai doạn dây điện lõi đồng có độ dài khoảng 60cm và hạt nam châm kích thước 2,5mm có chức năng nhận sóng âm, làm rung màng nhĩ để tải âm thanh.

Thiết bị này được người dùng cho nam châm vào lỗ tai, đồng thời cuộn dây vòng qua cổ phía trong áo để liên lạc với bên ngoài phòng thi như sử dụng điện thoại di động thông thường.

Thầy Trần Văn Tùng, người trực tiếp phát hiện thí sinh gian lận cho hay, trong quá trình kiểm tra, giám sát, thí sinh này thường xuyên theo dõi, đọc nhẩm trong miệng, phát thông tin ra ngoài. Khi các thí sinh đang làm bài, thí sinh này gần như ngồi chơi, có biểu hiện chờ được cung cấp đáp án.

Sau khi bị phát hiện, thí sinh này đã thừa nhận trong buổi sáng ngày 22/6, cũng đã sử dụng thiết bị gian lận để hoàn thành toàn bộ bài thi môn Ngữ văn.

(Tổng hợp)